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硅酸锂比表面积

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有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-10-29 12:58
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“硅酸锂比表面积”参数说明

是否有现货: 认证: ISO9001质量认证
品牌: 金埃谱 加工定制:
类型: 钢铁元素分析仪器 测试方法: BET法比表面积(多点及单点)分析
重复精度: ≤ ±1.5 % 最小测定范围: 0.0005m2/g
70×70×80: 60KG 产量: 1000

“硅酸锂比表面积”详细介绍

V-Sorb 4800P比表面积及孔隙率测量仪介绍
V-Sorb 4800P比表面积及孔隙率测量仪是金埃谱公司自主研发的比表面积及孔径分析仪器,采用静态容量法测量原理。相比国内同类,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强比表面积及孔径测试仪器,达到国际同类仪器先进水平,部分功能超越国外仪器。我们的产品设计更多从用户使用的角度出发,使V-Sorb 4800比表面积及孔隙率测量仪具备了完全的自动化操作,操作界面人性化,简单易学;通过采用合资或进口零配件,大大提高了仪器可靠性和使用寿命。产品整体设计上的完善和严格的产品制造和检测工序,确保产品更加符合用户实际需求,同时V-Sorb 4800比表面积及孔隙率测量仪的高性价比有效保障了用户的投资利益,灵活的产品配置可满足不同用户的不同需求。

V-Sorb 4800P比表面积及孔隙率测量仪参数
  测试方法:氮吸附静态容量法;
  主机功能:吸附及脱附等温线测定,BJH(Barett-Joyner-Halenda)总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,DR(Dubinin-Radushkevich)及DA(Dubinin-Astakhov)填充理论,CO2冰水法微孔分析,BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定;
  测定范围:0.0005(m2/g)--至无上限(比表面积); 0.35nm-2nm(微孔),2nm-500nm(中孔和大孔);0.0001 cc/g--至无上限(总孔体积);  
  测量精度:比表面积重复精度≤±1.0%;最可几孔径重复偏差≤0.01nm; 真密度≤±0.04%;外比表面积≤±1.5%;
  真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;
  液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
  测量模式:“单一氮气”和“氮气+氦气”两种测试模式完美结合,灵活切换,满足不同特性样品测试需求;
  标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用“氮气+空管”模式标定冷自由空间;
  样品处理:样品处理的全过程通过软件来自动控制,包括温度、时间及真空泵启停,且具备处理开始时间的预设功能,可实现夜间无人值守式测试和处理样品,大大提高工作效率;
  控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;
  样品数量:同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命;
  压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)(可选);
  压力精度:进口硅薄膜电容式压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%);
  分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.998;
  极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr);
  真 空 泵:进口双级真空泵可以实现外置和内置仪器中二种放置方法,内置仪器中可以通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命;
  样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;
  测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);
  数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
  数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表。

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